TOKYO KEIKI欠點檢查裝置
M-Cap印刷檢查裝置
M-Cap為檢測透明材料而開發的異物檢查裝置
機能
- 本產品是充分利用最新的圖像處理技術開發的平面專用異物檢查裝置。維持以往裝置的功能與使用容易度之外，可以實現更高速度和更高的分辨率。除了檢測小孔、異物汙染和污垢附著等小缺陷之外，還可以判別不均勻的材料、條紋和刮痕等難以分辨的缺陷。
特徵 :
- 可以安裝在任何地方
- 即使在高速運轉中也能檢測出微小的缺陷
- 鮮明清晰的圖像顯示和微小缺陷的檢測
- 缺陷顯示範例
- 加強檢出缺陷的判定
- 可以通過更清晰的圖像看到缺陷
- 即時查看缺陷統計數據和分布
- 將生產信息輕鬆傳輸到檢測機
- 遠端查看運作狀態
規格、性能
| 線傳感器 |
單色數字4096像素,掃描速率160MHz |
|---|---|
| 最大相機數量 | 單面最多８台・雙面４＋４台 |
| 解析度 | 横向解析度０．１５ｍｍ、縱向解析度０．１ｍｍ （檢査幅寬１1００ｍｍ相機２台、速度２００ｍ／ｍｉｎ） |
| 儲存圖像容量 | ＳＳＤ ５００ＧＢ （４００萬筆缺陷畫像保存） |
| 照明 | ＬＥＤ照明（本公司開發照明構造） |
| 檢出迴路 | ５迴路（明暗、垂直、條紋、水平、條紋） |
| 機能 | 周期判定、密集判定、出力判別、檢查寬度跟踪 |
| 應用 |
通過線傳感器進行材料外觀檢查 薄膜、片材、無紡布、金屬、各種塗膜等 |
構成